txtPredicción de fiabilidad de circuitos integrados

Predicción de fiabilidad de circuitos integrados

circuitos integrados

Bullet Descripción

Ceit tiene una amplia experiencia en la predicción de fiabilidad de circuitos integrados. Los siguientes puntos resumen las principales capacidades:

  • Herramientas para generación controlada de grietas y predicción de su avance en estructuras que muestran patrones.

  • Estudio del fallo cohesivo/adhesivo mediante el uso de elementos cohesivos en MCSN.

  • Análisis de fallo adhesivo o cohesivo en MCSN.

  • Comparación entre experimentos y modelización. Influencia de la tenacidad de la intercara ES-Cu en M1.

Comparación entre experimentos